可同時測量灰階-亮度曲線與顯示器均勻性之及其系統架構
 專利名稱 |
可同時測量灰階-亮度曲線與顯示器均勻性之及其系統架構 |
| 申請日 (校編號) |
2008/01/15 (096072TW) |
| 專利證書號 |
I353187 中華民國 |
| 專利權人 |
國立中央大學 |
| 發明人 |
歐陽盟、陳仕忠、黃庭緯 |
| 技術摘要： |
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| 本發明提供一種可同時量測灰階值－亮度曲線與顯示器均勻性之方法及其系統架構，其包含有一待測彩色顯示器；一訊號產生器，其係用以輸入一影像訊號至待測彩色顯示器，以顯示出一測試影像，其包含有N個區域，每一區域包含有M個區塊影像，其中8≦N≦1024，M為2的幂次方；一用以擷取測試影像，以產生一影像資訊的光感測器；以及一接收影像資訊並加以分析的電腦，以建立灰階值－亮度值曲線與判斷出待測顯示器的不均勻狀況。 |
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| 解決的問題或達成的功效： |
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| 本發明之主要目的在提供一種可同時量測灰階－亮度曲線與顯示器均勻性之方法及其系統架構，其可大幅度減少量測灰階－亮度曲線與量測顯示器均勻性的時間。 |
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| 應用領域： |
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| 本發明係有關一種量測顯示器顯色特性的方法及其系統架構，特別是指一種可同時量測灰階值－亮度曲線與顯示器均勻性之方法及其系統架構。 |
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| 適用產品： |
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| 量測顯示器顯色特性的方法 |
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| IPC： |
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| H04N-009/67(2006.01);H04N-005/202(2006.01) |
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| Claim 1： |
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| 1.一種可同時量測灰階值－亮度曲線與顯示器均勻性之方法，其包含有下列步驟：a.輸入一影像訊號至一彩色待測顯示器，以顯示一測試影像，其中該測試影像包含有N個區域，每一該區域包含有M個區塊影像，每一該區塊影像對應一不同灰階值，其中8≦N≦1024，M為2的幂次方；b.擷取該測試影像，以產生一擷取之影像資訊；c.分析該影像資訊，以取得每一該N個區域之M個區塊影像之灰階值－亮度，以建立灰階值－亮度值曲線；以及d.將該N個區域之該M個區塊影像依據其灰階值分類，並取出該N個區域中具相同灰階值的區塊影像部分，以形成M個灰階值區塊，以判斷出該待測顯示器的不均勻狀況。 |
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