技術媒合網

國際產業聯盟


    快速搜尋        

可同時測量灰階-亮度曲線與顯示器均勻性之及其系統架構
專利名稱 可同時測量灰階-亮度曲線與顯示器均勻性之及其系統架構
申請日 (校編號) 2008/01/15  (096072TW)
專利證書號 I353187 中華民國
專利權人 國立中央大學
發明人 歐陽盟、陳仕忠、黃庭緯


技術摘要:
本發明提供一種可同時量測灰階值-亮度曲線與顯示器均勻性之方法及其系統架構,其包含有一待測彩色顯示器;一訊號產生器,其係用以輸入一影像訊號至待測彩色顯示器,以顯示出一測試影像,其包含有N個區域,每一區域包含有M個區塊影像,其中8≦N≦1024,M為2的幂次方;一用以擷取測試影像,以產生一影像資訊的光感測器;以及一接收影像資訊並加以分析的電腦,以建立灰階值-亮度值曲線與判斷出待測顯示器的不均勻狀況。

解決的問題或達成的功效:
本發明之主要目的在提供一種可同時量測灰階-亮度曲線與顯示器均勻性之方法及其系統架構,其可大幅度減少量測灰階-亮度曲線與量測顯示器均勻性的時間。

應用領域:
本發明係有關一種量測顯示器顯色特性的方法及其系統架構,特別是指一種可同時量測灰階值-亮度曲線與顯示器均勻性之方法及其系統架構。

適用產品:
量測顯示器顯色特性的方法

IPC:
H04N-009/67(2006.01);H04N-005/202(2006.01)

Claim 1:
1.一種可同時量測灰階值-亮度曲線與顯示器均勻性之方法,其包含有下列步驟:a.輸入一影像訊號至一彩色待測顯示器,以顯示一測試影像,其中該測試影像包含有N個區域,每一該區域包含有M個區塊影像,每一該區塊影像對應一不同灰階值,其中8≦N≦1024,M為2的幂次方;b.擷取該測試影像,以產生一擷取之影像資訊;c.分析該影像資訊,以取得每一該N個區域之M個區塊影像之灰階值-亮度,以建立灰階值-亮度值曲線;以及d.將該N個區域之該M個區塊影像依據其灰階值分類,並取出該N個區域中具相同灰階值的區塊影像部分,以形成M個灰階值區塊,以判斷出該待測顯示器的不均勻狀況。 

相關圖片:
     
 
     
 
     
 
聯繫方式
聯絡人:研發處智權技轉組 與我連絡
電話:03-4227151 #27076、27077 網址:http://www.caic.ncu.edu.tw/
地 址: 32001桃園市中壢區中大路300號
 
                 
瀏覽人數:27332