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微量氣相分子穿透率之量測裝置及量測方法
專利名稱
申請日 (校編號)
專利證書號
專利權人 國立中央大學
發明人 郭倩丞、詹世豪、李正中、謝永祥
專利國家 中華民國,
應用領域


技術摘要:
本發明公開一種微量氣相分子穿透率之量測裝置及量測方法,量測裝置包括裝置本體、氣體供應單元、量測單元以及處理單元,裝置本體包括環境腔、量測腔、固持元件以及感測元件,其中環境腔與量測腔相連通,固持元件用於將待檢測物固定於環境腔與量測腔的連通處,感測元件設置於量測腔且具有石墨烯層,氣體供應單元與環境腔相連通,量測單元與感測元件電性連接,處理單元與量測單元電性連接。藉此,能有效減少量測過程中耗材的使用。

解決的問題或達成的功效:


應用領域:
本發明公開一種微量氣相分子穿透率之量測裝置及量測方法有效減少量測過程中耗材的使用。

適用產品:
光致發光光譜儀

IPC:
G01N-005/02(2006.01);G01F-015/04(2006.01)

Claim 1:


聯繫方式
聯絡人:研發處智權技轉組 與我連絡
電話:03-4227151 #27076、27077 網址:http://www.caic.ncu.edu.tw/
地 址: 32001桃園市中壢區中大路300號
 
                 
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