針對晶粒間連接線之內建延遲量測方法Built-in Delay Measurement Schemr for Inter-Die Interconnections.
 專利名稱 |
延遲量測電路及其量測方法DELAY MEASUREMENT CIRCUIT AND MEASURING METHOD THEREOF |
| 申請日 (校編號) |
2016/07/26 (105006US) 2016/05/24 (105006TW) |
| 專利證書號 |
US10,209,298B2 美國 I585427 中華民國 |
| 專利權人 |
國立中央大學 |
| 發明人 |
李進福、巫函諭、周哲緯、陳詠孝 |
| 技術摘要： |
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| 延遲量測電路及其量測方法。延遲量測電路包括：傳輸路徑選擇電路、第一、第二延遲量測器以及控制器。傳輸路徑選擇電路依據控制信號以形成通過第一參考傳輸導線、第二參考傳輸導線以及待測傳輸導線其中之二的多個傳輸迴路。第一延遲量測器分別計算部分的傳輸迴路的傳輸延遲並獲得多數個第一傳輸延遲。第二延遲量測器分別計算部分的傳輸迴路的傳輸延遲並獲得多數個第二傳輸延遲。控制器產生控制信號，並依據第一傳輸延遲以及第二傳輸延遲以獲得待測傳輸導線的傳輸延遲。 |
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| 解決的問題或達成的功效： |
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| 本發明是有關於一種延遲量測電路及其量測方法，且特別是有關於一種用以量測晶粒間傳輸導線的延遲量測電路及其量測方法。 |
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| 應用領域： |
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| 量測晶粒間的傳輸導線的延遲 |
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| 適用產品： |
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| IC晶片檢測機台 |
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| IPC： |
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| G01R-031/317(2006.01) |
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| Claim 1： |
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| 1.一種延遲量測電路，包括： 一傳輸路徑選擇電路，耦接多數個傳輸導線，選定該些傳輸導線中的一第一參考傳輸導線、一第二參考傳輸導線以及一待測傳輸導線，依據一控制信號以形成通過該第一參考傳輸導線、該第二參考傳輸導線以及該待測傳輸導線其中之二的多個傳輸迴路； 一第一延遲量測器，耦接至該傳輸路徑選擇電路的一端，分別計算部分該些傳輸迴路的傳輸延遲並獲得多數個第一傳輸延遲； 一第二延遲量測器，耦接至該傳輸路徑選擇電路的另一端，分別計算部分該些傳輸迴路的傳輸延遲並獲得多數個第二傳輸延遲；以及 一控制器，耦接該傳輸路徑選擇電路、該第一延遲量測器以及該第二延遲量測器，產生該控制信號，並依據該些第一傳輸延遲以及該些第二傳輸延遲以獲得該待測傳輸導線的傳輸延遲。 |
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| 聯繫方式 |
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