結構照明平行接收螢光超光譜顯微術 Structured illumination Fluorescence Hyperspectral Microscopy with Parallel Recording
 專利名稱 |
FLUORESCENCE HYPERSPECTRAL MICROSCOPY SYSTEM FEATURING STRUCTURED ILLUMINATION AND PARALLEL RECORDING COMPRISING A FREQUENCY-DIVIDING REFLECTION ELEMENT |
| 申請日 (校編號) |
2015/06/17 (103066US) 2015/04/29 (103066TW) |
| 專利證書號 |
9,618,452 美國 I560468 中華民國 |
| 專利權人 |
國立中央大學 |
| 發明人 |
陳思妤、蘇柏宇、呂喬聖、徐鈺 |
| 技術摘要： |
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| 本發明為一種結構照明平行接收之螢光超光譜顯微系統，其包括有：一投光系統；一偵測系統；以及一電控裝置。其中，投光系統包括：一數位光源處理模組(Digital Light Processing Module，DLP)；一第一透鏡組；一光路分配元件；及一物鏡，其中數位光源處理模組係用以產生線型結構激發光。偵測系統則包括：一第二透鏡組；一分頻反射元件；一二維光偵測器；及一集光元件。藉由本發明之實施，以光學的投光系統及偵測系統進行偵測，並以電控裝置控制數位光源處理模組、二維移動平台及二維光偵測器，結構照明平行接收之螢光超光譜顯微系統可以提高解析度並取得準確的空間維度與光譜維度的資訊，而獲得一待測物之四維超光譜影像。 |
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| 解決的問題或達成的功效： |
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| 一、以數位光源處理模組產生並投射線型結構激發光，可以提高光譜解析度。
二、以數位光源處理模組產生並投射線型結構激發光，可以提高偵測訊號之空間縱向解析度。
三、數位光源處理模組掃描速度快，可以大幅降低掃描取樣所需時間。
四、以數位光源處理模組進行多相位偵測，可以提高偵測所得的訊號之空間橫向解析度。
五、可以準確取得空間維度及光譜維度的資訊，並獲得待測物之四維超光譜影像。 |
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| 應用領域： |
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| 本發明係關於一種光譜量測系統，特別是關於一種結構照明平行接收之螢光超光譜顯微系統。 |
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| 適用產品： |
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| 光譜量測系統 |
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| IPC： |
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| G02B-021/06(2006.01);G01N-021/64(2006.01) |
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| Claim 1： |
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| 1.一種結構照明平行接收之螢光超光譜顯微系統，其包括有：一投光系統，其包括：一數位光源處理模組(Digital Light Processing Module，DLP)，其產生並投射一線型結構激發光；一第一透鏡組，由至少一透鏡組成，其係將該線型結構激發光匯聚為一探測光束；一光路分配元件，將該探測光束反射至一第一路徑；及一物鏡，設置於該第一路徑，接收該探測光束，將該探測光束聚焦及投射至一二維移動平台上之一待測物，接收該待測物受該探測光激發所反射出之一螢光訊號，又將該螢光訊號自該第一路徑傳送至及穿透該光路分配元件；一偵測系統，其包括：一第二透鏡組，其受穿透過該光路分配元件之該螢光訊號照射，並將該螢光訊號調變為相對應之一平行光束進行輸出；一分頻反射元件，將該平行光束所含不同頻率之訊號分別以不同角度反射成為一二維訊號；一二維光偵測器，接收該二維訊號；及一集光元件，設置於該分頻反射元件與該二維光偵測器之間，用以匯聚該二維訊號至該二維光偵測器；以及一電控裝置，電性連接並控制該數位光源處理模組、該二維移動平台及該二維光偵測器，又該電控裝置執行一控制程序。 |
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| 聯繫方式 |
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