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反向聚焦顯微成像結構及方法MICROSCOPY IMAGING STRUCTURE WITH PHASE CONJUGATED MIRROR AND THE METHOD THEREOF
專利名稱 反向聚焦顯微成像結構及方法MICROSCOPY IMAGING STRUCTURE WITH PHASE CONJUGATED MIRROR AND THE METHOD THEREOF
申請日 (校編號) 2012/10/15  (101014US)
2012/08/16  (101014TW)
2012/08/27  (101014CH)
專利證書號 9,689,797 美國
I456255 中華民國
1795511 中國
專利權人 國立中央大學
發明人 孫慶成、余業緯、林哲巨、陳思妤


技術摘要:
本發明為一種反向聚焦之顯微成像結構及方法,反向聚焦之顯微成像結構包括:第一分光鏡;物鏡;以及相位共軛模組。其首先藉由第一分光鏡輸入探測光並輸出至物鏡,又藉由物鏡接收探測光反射後之訊號光,然後再次由第一分光鏡將訊號光投射至相位共軛模組。藉由本發明的實施,可以對待測之生醫組織進行單邊探測並提高顯微成像之縱向解析度。

解決的問題或達成的功效:
本發明為一種反向聚焦顯微成像結構及方法,特別是一種應用於醫療領域進行人體組織探測之反向聚焦顯微成像結構及方法。

應用領域:
一、以單方向之探測光照射便能倍數提高顯微成像之縱向解析度。
二、並能減少散射,提升生醫成像效率。
三、高解析顯微成像而不受待測生醫組織厚度及部位之限制。
四、可依應用需求調整探測光束之聚焦位置,達到待測生醫組織內更深層的位置。

適用產品:
反向聚焦顯微成像結構

IPC:
G02B-021/00(2006.01);G02B-021/36(2006.01)

Claim 1:
1.一種反向聚焦之顯微成像結構,其包括:一第一分光鏡,具有一第一輸入端、一第一導光端及一第一輸出端,其中該第一輸出端係與該第一導光端平行相對,又與該第一輸入端相垂直,自該第一輸入端入射之光線係受該第一分光鏡反射而自該第一導光端射出,且自該第一導光端入射之光線係穿透該第一分光鏡而自該第一輸出端射出;一物鏡,設置於該第一導光端之光路徑上,自該第一導光端入射之光線係由該物鏡聚焦至一待測生醫組織內部,且由該待測生醫組織反射與散射之光線係由該物鏡傳導至該第一導光端;以及一相位共軛模組,其為一相位共軛反射鏡或是一相位共軛訊號處理模組,設置於該第一輸出端之光路徑上。

相關圖片:
     
 
     
 
     
 
聯繫方式
聯絡人:研發處智權技轉組 與我連絡
電話:03-4227151 #27076、27077 網址:http://www.caic.ncu.edu.tw/
地 址: 32001桃園市中壢區中大路300號
 
                 
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