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量測裝置及其量測方法 DETECTING APPARATUS AND DETECTING METHOD THEREOF
專利名稱 量測裝置及其量測方法DETECTING APPARATUS AND DETECTING METHOD THEREOF
申請日 (校編號) 2012/09/10  (100051US)
2011/10/21  (100051TW)
專利證書號 9,952,090 美國
I452270 中華民國
專利權人 國立中央大學
發明人 孫慶成、余業緯、陳彥霖、陳瑋鑫


技術摘要:
一種量測裝置係量測一待測物,並包括至少一屏幕、至少一量測單元以及至少一保持單元。屏幕係部分透光,且具有相對的一第一表面及一第二表面,待測物係鄰設於屏幕之第一表面。量測單元與待測物對應設置,並鄰設於屏幕之第二表面。保持單元保持屏幕、待測物及量測單元三者的相對距離,量測單元擷取屏幕之第二表面的影像,以計算待測物之光場分布。本發明之量測裝置可快速量測一待測物之光場分布,並具有成本低及準確度高的優點。

解決的問題或達成的功效:
本發明關於一種量測裝置及其量測方法,特別關於一種光場分布的量測裝置及其量測方法。

應用領域:
本發明之目的為提供一種可取代習知的配光曲線儀及積分球而快速量測一光源之光場分布及總能量,並具有成本低及準確度高的優點之量測裝置及其量測方法。

適用產品:
量測裝置及其量測方法

IPC:
G01J-001/42(2006.01)

Claim 1:
1.一種量測裝置,係量測一待測物,並包括:至少一屏幕,係部分透光,且具有相對的一第一表面及一第二表面,該待測物係鄰設於該屏幕之該第一表面;至少一量測單元,與該待測物對應設置,並鄰設於該屏幕之該第二表面;以及至少一保持單元,保持該屏幕、該待測物及該量測單元三者的相對距離,該量測單元擷取該屏幕之該第二表面的影像,以計算該待測物之光場分布,其中,該保持單元相對該待測物具有複數位置,且於該等位置時,該屏幕、該待測物與該量測單元三者的相對距離不變。

相關圖片:
     
 
     
 
     
 
聯繫方式
聯絡人:研發處智權技轉組 與我連絡
電話:03-4227151 #27076、27077 網址:http://www.caic.ncu.edu.tw/
地 址: 32001桃園市中壢區中大路300號
 
                 
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