去除戴奧辛類化合物的系統及方法
 專利名稱 |
去除戴奧辛類化合物的系統及方法 SYSTEM AND METHOD FOR REDUCTION OF DIOXIN |
| 申請日 (校編號) |
2011/11/09 (100045TW) |
| 專利證書號 |
I424877 中華民國 |
| 專利權人 |
國立中央大學 |
| 發明人 |
張木彬、張書豪、洪保鎮 |
| 技術摘要： |
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| 本發明係提供一種去除戴奧辛類化合物的系統。該系統包含一吸附設備，具有複數球狀活性碳，該等球狀活性碳的Brunauer-Emmett-Teller(BET)比表面積介於550~1000 m2/g。 |
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| 解決的問題或達成的功效： |
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| 本發明係關於一種去除化合物的系統，尤指一種去除戴奧辛類化合物的系統。 |
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| 應用領域： |
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| 戴奧辛類化合物具有極高之生物毒性，本發明提供一種去除戴奧辛類化合物的方法。 |
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| 適用產品： |
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| 觸媒過濾系統;觸媒濾管 |
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| IPC： |
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| B01J-020/20(2006.01);C01B-031/08(2006.01);B01D-053/04(2006.01);B01D-053/72(2006.01);B01D-053/73(2006.01) |
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| Claim 1： |
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| 1.一種去除戴奧辛類化合物的系統，包含：一吸附設備，具有複數球狀活性碳，該等球狀活性碳的Brunauer-Emmett-Teller(BET)比表面積介於550~1000m 2 /g，且每單位質量(1g)中，複數微孔隙(<2nm)的體積介於0.37~0.42cm 3 ，複數中孔隙(<2~50nm)的體積介於0.23~0.25cm 3 ，複數巨孔隙(>50nm)的體積介於0.14~0.19cm 3 ，總孔隙體積介於0.79~0.81cm 3 ，而平均直徑介於23.8~26.1Å。 |
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| 相關圖片： |
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