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表面電漿共振量測裝置Surface Plasmon Resonance Measuring Device
專利名稱 表面電漿共振量測裝置SURFACE PLASMON RESONANCE MEASURING DEVICE
申請日 (校編號) 2010/11/23  (099001US)
2010/05/04  (099001TW)
專利證書號 8,670,122  美國
I426260 中華民國
專利權人 國立中央大學
發明人 李朱育、蔡欣凱


技術摘要:
本發明之表面電漿共振量測裝置,包含一旋光外差光源,旋光外差光源產生一旋光外差光束,一分光元件分化旋光外差光束為一參考光束與一訊號光束,一第一光感測結構感測參考光束之一參考光強度,表面電漿共振感測器接收訊號光束並反射一反射訊號光束,一第二光感測結構接收反射訊號光束之一反射光強度,一運算電路計算參考光強度與反射光強度之相位差。藉由旋光外差光束可高靈敏地反映出入射光經表面電漿共振後所引起的相位變化,如此可提升量測待測物微小物理量的變化之便利性。

解決的問題或達成的功效:
提供一種表面電漿共振量測裝置,其係藉由一旋光外差光源以產生一旋光外差光束,藉由旋光外差光束可高靈敏地反映出入射光經表面電漿共振後所引起的相位變化,如此可提升量測待測物微小物理量的變化之便利性。 提供一種表面電漿共振量測裝置,其係藉由一光學模組以得到入射光經表面電漿共振後之光訊號之兩倍相位變化,以使表面電漿共振量測之靈敏度提升。

應用領域:
關於一種表面電漿共振量測裝置,特別是指一種可調制入射光波長之旋光外差式的表面電漿共振量測裝置。

適用產品:
生醫抗體檢測 奈米檢測

IPC:
G01N21/553

Claim 1:
1.一種表面電漿共振量測裝置,包含:一旋光外差光源,產生一旋光外差光束,其中該旋光外差光源包含有一外差光源,以產生一外差光束;以及一偏振元件,其中該外差光源是由一波長調變光源所產生,該偏振元件是用以偏振該外差光束,以產生該旋光外插光束;一分光元件,分化該旋光外差光束為一參考光束與一訊號光束;一第一光感測結構,感測該參考光束之一參考光強度;一表面電漿共振感測器,接收該訊號光束並反射一反射訊號光束;一第二光感測結構,接收該反射訊號光束之一反射光強度;以及一運算電路,計算該參考光強度與該反射光強度之相位差。

聯繫方式
聯絡人:研發處智權技轉組 與我連絡
電話:03-4227151 #27076、27077 網址:http://www.caic.ncu.edu.tw/
地 址: 32001桃園市中壢區中大路300號
 
                 
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