粉粒體壓力-位置動態量測系統
 專利名稱 |
粉粒體壓力-位置動態量測系統 |
| 申請日 (校編號) |
2005/06/17 (093052TW) |
| 專利證書號 |
I265285 中華民國 |
| 專利權人 |
國立中央大學 |
| 發明人 |
蕭述三、陳一順 |
| 技術摘要： |
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| 一種粉粒體壓力－位置動態量測系統，其包含一具有第一、二及第三滑軌之位移裝置，各滑軌係藉由連接桿連結成一相對移動狀，且各滑軌係連接有一訊號傳輸單元，並於該訊號傳輸單元連接有一位移控制單元；以及一由探測單元、傳輸單元及壓力控制單元所構成之壓力感測裝置，且該探測單元係固接於位移裝置之第三滑軌上。藉此，可有效且即時量測在不同高度的粉粒體壓力，並能正確得知不正常之壓力狀況。 |
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| 解決的問題或達成的功效： |
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| 本發明粉粒體壓力－位置動態量測系統可有效改善習用之種種缺點，可藉由壓力感測裝置配合位移裝置，當壓力感測裝置接觸到同一種待測物時，會產生均勻的壓力值，而當壓力感測裝置碰觸到待測物粒徑差距過大或不同種類之物質時，則會有不同的壓力值產生；藉以，可有效且即時量測欲待測物之深度或高度 |
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| 應用領域： |
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| 關於一種粉粒體壓力－位置動態量測系統 |
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| 適用產品： |
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| IPC： |
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| G01L-007/00(2006.01) |
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| Claim 1： |
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| 其中,該數位延遲電路則根據該些邏輯訊號對該資料作延遲。 |
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| 聯繫方式 |
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