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粉粒體壓力-位置動態量測系統
專利名稱 粉粒體壓力-位置動態量測系統
申請日 (校編號) 2005/06/17  (093052TW)
專利證書號 I265285 中華民國
專利權人 國立中央大學
發明人 蕭述三、陳一順


技術摘要:
一種粉粒體壓力-位置動態量測系統,其包含一具有第一、二及第三滑軌之位移裝置,各滑軌係藉由連接桿連結成一相對移動狀,且各滑軌係連接有一訊號傳輸單元,並於該訊號傳輸單元連接有一位移控制單元;以及一由探測單元、傳輸單元及壓力控制單元所構成之壓力感測裝置,且該探測單元係固接於位移裝置之第三滑軌上。藉此,可有效且即時量測在不同高度的粉粒體壓力,並能正確得知不正常之壓力狀況。

解決的問題或達成的功效:
本發明粉粒體壓力-位置動態量測系統可有效改善習用之種種缺點,可藉由壓力感測裝置配合位移裝置,當壓力感測裝置接觸到同一種待測物時,會產生均勻的壓力值,而當壓力感測裝置碰觸到待測物粒徑差距過大或不同種類之物質時,則會有不同的壓力值產生;藉以,可有效且即時量測欲待測物之深度或高度

應用領域:
關於一種粉粒體壓力-位置動態量測系統

適用產品:


IPC:
G01L-007/00(2006.01)

Claim 1:
其中,該數位延遲電路則根據該些邏輯訊號對該資料作延遲。

聯繫方式
聯絡人:研發處智權技轉組 與我連絡
電話:03-4227151 #27076、27077 網址:http://www.caic.ncu.edu.tw/
地 址: 32001桃園市中壢區中大路300號
 
                 
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