色度儀之色溫可調式方法
 專利名稱 |
色度儀之色度值量測方法 METHOD FOR MEASURING CHROMATICITY VALUES BY A COLORIMETER |
| 申請日 (校編號) |
2007/10/19 (095024US) 2006/08/04 (095024TW) |
| 專利證書號 |
7,898,664 美國 I291549 中華民國 |
| 專利權人 |
國立中央大學 |
| 發明人 |
楊宗勳、林維屏 |
| 技術摘要： |
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| 一種色度儀之色溫可調式方法，係針對習知濾片式色度儀照射光源不準確，且須使用不好鍍製之配色函數濾光片，及光譜式色度儀需採用較昂貴光譜儀之缺點，本發明係不需要配色函數濾光片也不需要光譜儀，只需利用多波長組合式光源照射待測物體，加上光功率計，即可測量出精確的物體色度值，多波長組合式光源可調整不同色溫下 CIE標準光源，可以得出待測物體的色度值，色度值精確可達光譜式色度儀，且價格上較光譜式色度儀便宜。 |
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| 解決的問題或達成的功效： |
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| 本發明係提供一種色度儀之色溫可調式方法，尤指一種可達光譜式色度儀之色度精確值，且價格上較光譜式色度儀便宜之色溫可調式方法。 |
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| 應用領域： |
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| 本發明利用多波長組合式光源，可方便調整色溫，色度值較習知濾片式色度儀利用標準光源D之照射準確，可達光譜式色度儀之色度精確值，且利用光功率計接收反射光，避免使用昂貴之光譜儀之缺點。 提供一種色度儀之色溫可調式方法，本發明利用多波長組合式光源照射待測物體，可達光譜式色度儀之色度精確值，且價格上較光譜式色度儀便宜，改良習知濾片式色度儀及光譜式色度儀之缺點。 |
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| 適用產品： |
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| 色度儀 |
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| IPC： |
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| G01J-003/50(2006.01) |
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| Claim 1： |
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| 1.一種色度儀之色溫可調式方法,其步驟包括: (a)利用一多波長組合式光源照射在待測物體的表面上: 其中,多波長組合式光源係由分佈在可見光範圍的各單色光組成,且多波長組合式光源分別組合出光譜强度*X色彩座標配色函數S(λ)*x(λ),光譜强度*Y色彩座標配色函數S(λ)*y(λ),光譜强度*Z色彩座標配色函數S(λ)*z(λ)光譜分佈的光源;(b)使照射在待測物體表面上的光源形成反射光,並使該反射光通過色度儀內部的光功率計; (c)利用光功率計接收之光强度値,求得物體色度値: 係將多波長組合式光源組合出之光譜强度*X色彩座標配色函數S(λ)*x(λ),光譜强度*Y色彩座標配色函數S(λ)*y(λ),光譜强度*Z色彩座標配色函數S(λ)*z(λ)光譜分佈的光源,依照順序照射在物體上即為乘上物體反射率R(λ)後,由多頻道的光功率計(Power Meter)接收等同於積分,即可求出X、Y、Z値,由於需考慮光功率計在各波長上頻率響應,故用多波長組合式光源分別組合出光譜强度*X色彩座標配色函數/光功率的頻率響應S(λ)*x(λ)/PM(λ),光譜强度*Y色彩座標配色函數/光功率的頻率響應S(λ)*y(λ)/PM(λ),光譜强度*Z色彩座標配色函數/光功率的頻率響應S(λ)*z(λ)/PM(λ)光譜分佈的光源。 |
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| 相關圖片： |
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