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色度儀之色溫可調式方法
專利名稱 色度儀之色度值量測方法 METHOD FOR MEASURING CHROMATICITY VALUES BY A COLORIMETER
申請日 (校編號) 2007/10/19  (095024US)
2006/08/04  (095024TW)
專利證書號 7,898,664  美國
I291549 中華民國
專利權人 國立中央大學
發明人 楊宗勳、林維屏


技術摘要:
一種色度儀之色溫可調式方法,係針對習知濾片式色度儀照射光源不準確,且須使用不好鍍製之配色函數濾光片,及光譜式色度儀需採用較昂貴光譜儀之缺點,本發明係不需要配色函數濾光片也不需要光譜儀,只需利用多波長組合式光源照射待測物體,加上光功率計,即可測量出精確的物體色度值,多波長組合式光源可調整不同色溫下 CIE標準光源,可以得出待測物體的色度值,色度值精確可達光譜式色度儀,且價格上較光譜式色度儀便宜。

解決的問題或達成的功效:
本發明係提供一種色度儀之色溫可調式方法,尤指一種可達光譜式色度儀之色度精確值,且價格上較光譜式色度儀便宜之色溫可調式方法。

應用領域:
本發明利用多波長組合式光源,可方便調整色溫,色度值較習知濾片式色度儀利用標準光源D之照射準確,可達光譜式色度儀之色度精確值,且利用光功率計接收反射光,避免使用昂貴之光譜儀之缺點。 提供一種色度儀之色溫可調式方法,本發明利用多波長組合式光源照射待測物體,可達光譜式色度儀之色度精確值,且價格上較光譜式色度儀便宜,改良習知濾片式色度儀及光譜式色度儀之缺點。 

適用產品:
色度儀

IPC:
G01J-003/50(2006.01)

Claim 1:
1.一種色度儀之色溫可調式方法,其步驟包括:
(a)利用一多波長組合式光源照射在待測物體的表面上:
其中,多波長組合式光源係由分佈在可見光範圍的各單色光組成,且多波長組合式光源分別組合出光譜强度*X色彩座標配色函數S(λ)*x(λ),光譜强度*Y色彩座標配色函數S(λ)*y(λ),光譜强度*Z色彩座標配色函數S(λ)*z(λ)光譜分佈的光源;(b)使照射在待測物體表面上的光源形成反射光,並使該反射光通過色度儀內部的光功率計;
(c)利用光功率計接收之光强度値,求得物體色度値:
係將多波長組合式光源組合出之光譜强度*X色彩座標配色函數S(λ)*x(λ),光譜强度*Y色彩座標配色函數S(λ)*y(λ),光譜强度*Z色彩座標配色函數S(λ)*z(λ)光譜分佈的光源,依照順序照射在物體上即為乘上物體反射率R(λ)後,由多頻道的光功率計(Power Meter)接收等同於積分,即可求出X、Y、Z値,由於需考慮光功率計在各波長上頻率響應,故用多波長組合式光源分別組合出光譜强度*X色彩座標配色函數/光功率的頻率響應S(λ)*x(λ)/PM(λ),光譜强度*Y色彩座標配色函數/光功率的頻率響應S(λ)*y(λ)/PM(λ),光譜强度*Z色彩座標配色函數/光功率的頻率響應S(λ)*z(λ)/PM(λ)光譜分佈的光源。

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