用於質譜分析的三維結構輔助奈米表面基板
 專利名稱 |
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| 申請日 (校編號) |
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| 專利證書號 |
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| 專利權人 |
國立中央大學 |
| 發明人 |
曹嘉文,鄭字哲,黃志穎, |
| 專利國家 |
中華民國,美國,, |
| 應用領域 |
| 技術摘要： |
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| 一種供質譜分析儀器使用的方法。使用具有三維結構的質譜晶片，其結構可以幫助樣本進行前處理、輔助樣本滴定與優化質譜檢測結果。質譜晶片表面具有奈米結構，例如奈米絲、奈米孔、奈米柱等。 一種供質譜分析儀器使用的基板與方法，基板包含載台與晶片。晶片具有三維結構與奈米表面結構，其中三維結構的可以幫助檢測物在基板上進行前處理、定位與沉積，並能增加質譜儀的使用效率;載台可以固定晶片，並安裝於質譜儀上，以進行質譜分析時的環境參數設定。透過微加工的方式使進行質譜分析用的奈米表面結構晶片具有 特定的三維結構，可幫助檢測物於基板上進行前處理、定位與沉積，並能增加質譜儀的使用效率。 |
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| 解決的問題或達成的功效： |
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| 應用領域： |
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| 適用產品： |
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| IPC： |
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| Claim 1： |
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| l.一種使用三維結構輔助奈米表面基板進行質譜分析的方法，包括(a)將分析物置 於基板上(b)三維結構可以使分析物滴液進行流動、分離與定位，縮減分析物的沉積範圍並幫助分析物富集(enrichment) (c)對分析物進行雷射脫附/游離以完成分析。 2.如請求項l中的基板包含: 分析晶片，表面擁有奈米結構提供各式樣本沉積、脫附與游離，並有三維結構輔助檢測；晶片程載台，提供晶片固定並可以拆卸於質譜儀進行更換晶片的載台。 3.如請求項2中的晶片材料為金屬、石墨、半導體。 4.如請求項2中的奈米結構包含孔、線、絲、柱與多層上述結構組成之結構。 5.如請求項2中的三維結構透過CNC、CVD、PVD雷射加工、化學蝕刻、積層製造等方式進行 6.如請求項2中的樣本包含藥物，染料，炸藥或爆炸性殘留物，麻醉劑，聚合物，生物分子，化學戰劑及其特徵，肽，代謝物，脂質，寡糖，蛋白質。和其他生物分子，合成有機物，藥物和有毒化學品微生物:單細胞真核生物，原核生物和病毒。 7.如請求項2中的載台由金屬、聚合物、木材、布或纖維材料製成。 |
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| 聯繫方式 |
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