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雙色時域聚焦多光子螢光三維單粒子追蹤系統
專利名稱 粒子三維定位與追蹤裝置及其方法
申請日 (校編號) 2016/05/06  (105001TW)
專利證書號 I582407 中華民國
專利權人 國立中央大學
發明人 簡汎清、戴揚紘、連啟翔


技術摘要:
一種粒子三維定位與追蹤裝置,包含光源模組、成像透鏡組以及光偵測模組。光源模組係用以激發待測物,使待測物產生螢光光束。成像透鏡組包含一第一柱面透鏡、一第二柱面透鏡以及一成像透鏡,其中第一柱面透鏡具有第一焦距,第一焦距為正值,且第二柱面透鏡具有第二焦距,第二焦距為負值,第一柱面透鏡與第二柱面透鏡係共同用以調整螢光光束之一成像形狀。成像透鏡係用以將螢光光束成像於光偵測模組,且光偵測模組係用以偵測通過成像透鏡組之螢光光束。

解決的問題或達成的功效:
可聚焦的第一柱面透鏡與可發散的第二柱面透鏡於不同軸向下的聚焦能力係不同的,藉由組合這樣的第一柱面透鏡與第二柱面透鏡可控制像散效應,使得通過成像透鏡組之螢光光束的成像產生適當的像散,再經成像透鏡成像於光偵測器,俾利於建立較精確的粒子定位軸向位置的校正曲線,增加粒子三維定位與追蹤的準確性。 

應用領域:


適用產品:
GPS衛星定位

IPC:
G01N-021/64(2006.01)

Claim 1:
1.一種粒子三維定位與追蹤裝置,包含:一光源模組,用以激發一待測物,使該待測物產生一螢光光束;一成像透鏡組,包含一第一柱面透鏡、一第二柱面透鏡以及一成像透鏡,其中該第一柱面透鏡具有一第一焦距,該第一焦距為正值,且該第二柱面透鏡具有一第二焦距,該第二焦距為負值,該第一柱面透鏡與該第二柱面透鏡係共同用以調整該螢光光束之一成像形狀;以及一光偵測模組,其中該成像透鏡係用以將該螢光光束成像於該光偵測模組,且該光偵測模組係用以偵測通過該成像透鏡組之該螢光光束。 

聯繫方式
聯絡人:研發處智權技轉組 與我連絡
電話:03-4227151 #27076、27077 網址:http://www.caic.ncu.edu.tw/
地 址: 32001桃園市中壢區中大路300號
 
                 
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