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具光衰減裝置的光電元件之校正系統及其校正方法SYSTEM FOR CALIBRATING OPTOELECTRONIC DEVICE EMPLOYING OPTICAL ATTENUATOR, AMD METHOD THEREOF
專利名稱 具光衰減裝置的光電元件之校正系統及其校正方法
申請日 (校編號) 2016/10/14  (104051TW)
專利證書號 I630420 中華民國
專利權人 國立中央大學
發明人 江士標、葉則亮、俞明軒、黃鈺欽


技術摘要:
本發明揭示一種具光衰減裝置的光電元件之校正系統及其校正方法,藉由動態調整穿過光衰減裝置的光通量,以建立第一光電元件的校正強度值(如光功率)與第二光電元件之第二強度值(如光子脈衝計數值)之間的線性比例關係曲線,以校正第二光電元件在不同的光通量相對應的校正強度值。並且藉由控制單元計算第一光電元件的最大第一光通量與第二光電元件的最大第二光通量具有一倍率值,並且計算第一光電元件的第一強度除以倍率值以形成第一光電元件的校正強度值,以提高校正第二光電元件的解析度。

解決的問題或達成的功效:


應用領域:


適用產品:


IPC:
G02B-026/02(2006.01); G01J-001/42(2006.01)

Claim 1:
1.一種具光衰減裝置的光電元件之校正系統,包括:一光源,用以形成一光線;一光衰減裝置,用以接收該光線,並且該光衰減裝置轉動以動態調整穿過該光衰減裝置的該光線之光通量,當該光衰減裝置以一中心軸在一第一角度區間轉動時,該光線穿過該光衰減裝置相對應形成複數第一光通量,並且當該光衰減裝置以該中心軸在一第二角度區間轉動時,該光線穿過該光衰減裝置相對應形成複數第二光通量,其中該些第一光通量中最大的第一光通量大於該些第二光通量中最大的第二光通量,並且該最大的第一光通量與該最大的第二光通量具有一倍率值;一第一光電元件,用以感測該光線的該些第一光通量相對應的複數第一強度值之和;一第二光電元件,用以感測該光線的該些第二光通量相對應的複數第二強度值之和;以及一控制單元,用以控制該光衰減裝置、該第一光電元件以及該第二光電元件,該控制單元計算每一該些第一強度值除以該倍率值以形成複數校正強度值,並且該控制單元建立該些校正強度值與該第二光電元件之該些第二強度值之間的線性比例關係曲線,藉由該線性比例關係曲線以校正該第二光電元件在不同的光通量相對應的強度值。

聯繫方式
聯絡人:研發處智權技轉組 與我連絡
電話:03-4227151 #27076、27077 網址:http://www.caic.ncu.edu.tw/
地 址: 32001桃園市中壢區中大路300號
 
                 
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