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光分布量測儀Optic distribution meter
專利名稱 OPTIC DISTRIBUTION METER
申請日 (校編號) 2016/02/03  (104019US)
2015/09/09  (104019TW)
2015/09/21  (104019CH)
專利證書號 9,952,152 美國
I545310 中華民國
3066576 中國
專利權人 國立中央大學
發明人 楊宗勳、孫慶成、余業緯、陳晁銓


技術摘要:
本發明為光分佈量測儀,其包括:一待測物系統以及一取像系統,待測物系統包括有:一延伸有載物台的弧形支具及具有第一軌道的軌道基座;取像系統,係設置於待測物系統之載物台的一側,並包括:一屏幕及一取像器。藉由本發明之實施,軌道基座可使待測物系統旋轉或移動至指定之取像角度,使光分佈量測因第一軌道之設計而能獲得較小的光遮蔽。另一方面,第一軌道承載待測物系統,使得取像系統改變取像角度時,不會影響待測物系統中之光源對於待測物之入射角度,確保量測之精準。

解決的問題或達成的功效:
一、可使待測物系統旋轉或移動至指定之取像角度,使光分佈量測因軌道之設計而能獲得較小的光遮蔽。 二、以軌道承載待測物系統,使得取像系統改變取像角度時,不會影響待測物系統中之光源對於待測物之入射角度,確保量測之精準。 為使任何熟習相關技藝者了解本發明之技術內容並據以實施,且根據本說明書所揭露之內容、申請專利範圍及圖式,任何熟習相關技藝者可輕易地理解本發明相關之目的及優點,因 此將在實施方式中詳細敘述本發明之詳細特徵以及優點。 一、可使待測物系統旋轉或移動至指定之取像角度,使光分佈量測因軌道之設計而能獲得較小的光遮蔽。 二、以軌道承載待測物系統,使得取像系統改變取像角度時,不會影響待測物系統中之光源對於待測物之入射角度,確保量測之精準。 為使任何熟習相關技藝者了解本發明之技術內容並據以實施,且根據本說明書所揭露之內容、申請專利範圍及圖式,任何熟習相關技藝者可輕易地理解本發明相關之目的及優點,因 此將在實施方式中詳細敘述本發明之詳細特徵以及優點。

應用領域:
本發明係關於一種光分佈量測儀,特別是關於一種具有軌道的光分佈量測儀。 本發明係關於一種光分佈量測儀,特別是關於一種具有軌道的光分佈量測儀。

適用產品:
光分佈量儀

IPC:
G01N-021/47(2006.01)

Claim 1:
1.一種光分佈量測儀,其包括:一待測物系統,其包括有:一弧形支具,其具有自一基點向弧形的中心方向延伸設置之一載物台,用以承載一待測物;及一軌道基座,用以承載該弧形支具,又該軌道基座設有一第一軌道、一第一馬達及一第二馬達,該第一馬達用以控制該軌道基座進行以一第一軸線為軸心之旋轉;該第二馬達用以控制該弧形支具於該第一軌道上移動,其中該第一軸線係為該軌道基座的中央軸;以及一取像系統,設置於該載物台之一側,其包括:一屏幕,該待測物所散射之光分佈資訊係投射至該屏幕,且顯現於該屏幕之一表面;及一取像器,與該屏幕相對設置,用以擷取並記錄該屏幕的該表面之光分佈資訊。 

聯繫方式
聯絡人:研發處智權技轉組 與我連絡
電話:03-4227151 #27076、27077 網址:http://www.caic.ncu.edu.tw/
地 址: 32001桃園市中壢區中大路300號
 
                 
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