頻譜光形分布檢測技術 Spectrum and Spatial Distribution Measuring Technique
 專利名稱 |
量測系統 DETECTING SYSTEM |
| 申請日 (校編號) |
2014/10/20 (103009US) 2014/06/20 (103009TW) 2014/08/22 (103009CH) |
| 專利證書號 |
9,574,940 美國 I491856 中華民國 2839469 中國 |
| 專利權人 |
國立中央大學 |
| 發明人 |
孫慶成、余業緯、林廷瑋、林哲巨 |
| 技術摘要： |
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| 一種量測系統，係量測一待測物的一待測光線，包括：一光空間分布單元、一色散分光單元以及一量測單元。光空間分布單元設置於待測物的一側，以接收待測光線並形成複數點光源。色散分光單元設置於光空間分布單元的一側，以接收該些點光源並產生一分光訊號。量測單元設置於色散分光單元的一側，以接收分光訊號並產生待測光線的光場分布。 |
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| 解決的問題或達成的功效： |
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| 本發明關於一種量測系統，特別關於一種光場分布的量測系統。 |
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| 應用領域： |
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| 本發明的量測系統係用於量測一待測物的待測光線，其中，光空間分布單元接收待測光線並形成複數個空間中不同位置的點光源，色散分光單元接收該些點光源並產生一分光訊號，量測單元接收分光訊號以產生關於待測光線的頻譜與光場分布。藉由本發明的量測系統，僅需進行一次的量測步驟，即可量測待測物於空間的頻譜與光場分布，不必如習知的配光曲線儀需進行多次單點量測，因此本發明的量測系統具有成本低、量測速度快與可量測空間中頻譜分布等優點。 |
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| 適用產品： |
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| 光場分布的量測系統 |
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| IPC： |
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| G01J-003/02(2006.01);G01J-003/28(2006.01) |
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| Claim 1： |
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| 1.一種量測系統，係量測一待測物的一待測光線，該量測系統包括：一光空間分布單元，設置於該待測物的一側，以接收該待測光線並形成複數點光源；一色散分光單元，設置於該光空間分布單元的一側，以接收該些點光源並產生一分光訊號；以及一量測單元，設置於該色散分光單元的一側，以接收該分光訊號並產生該待測光線的光場分布。 |
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| 相關圖片： |
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