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利用中性DNA作為高通量檢測之表面探針或是配體固定化連結層
專利名稱
申請日 (校編號)
專利證書號
專利權人 國立中央大學
發明人 陳文逸、楊裕雄、詹維康
專利國家 中華民國,
應用領域


技術摘要:
本發明提供一種以N-DNA作為高通量檢測平台表面探針,該N-DNA係將DNA磷酸骨架之帶電氧離子(O - )經甲基化、乙基化、丙基化或烷基化修飾使骨架不帶電後所形成之中性DNA。為驗證N-DNA作為高通量檢測平台表面探針之效果,本發明提供一種以N-DNA作為高通量檢測平台的表面探針之使用方法,係包括一晶片改質步驟及一流體檢測步驟,本發明分別以FET檢測平台及SPRi檢測平台來作為高通量檢測平台的實施例,並驗證N-DNA使用在此兩種檢測平台所產生之功效,證實N-DNA作為表面探針可有效降低系統之背景雜訊,達到提升雜交效率及敏感度,進而提升檢測之反應靈敏度。

解決的問題或達成的功效:
提供 一種以N-DNA作為高通量檢測平台表面探針,其中該N-DNA係將DNA磷酸骨架帶電氧離子(O-)經由甲基化、乙基化、丙基化或烷基化修飾後使骨架不帶電後所形成,可達到提升雜交效率、敏感度及使訊號更清楚之目的者,以提升生物檢測器之檢測敏感度及檢測品質

應用領域:
基因檢測的技術

適用產品:
基因檢測

IPC:
C12Q-001/68(2006.01);C07H-021/00(2006.01)

Claim 1:
1.一種以N-DNA作為高通量檢測平台的表面探針之用途,其中該N-DNA係將DNA磷酸骨架帶電氧離子(O-)經由甲基化、乙基化、丙基化或烷基化修飾後使骨架不帶電後所形成,達到提升雜交效率、敏感度及使訊號更清楚之目的者。

聯繫方式
聯絡人:研發處智權技轉組 與我連絡
電話:03-4227151 #27076、27077 網址:http://www.caic.ncu.edu.tw/
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