技術摘要: |
本發明提供一種以N-DNA作為高通量檢測平台表面探針,該N-DNA係將DNA磷酸骨架之帶電氧離子(O - )經甲基化、乙基化、丙基化或烷基化修飾使骨架不帶電後所形成之中性DNA。為驗證N-DNA作為高通量檢測平台表面探針之效果,本發明提供一種以N-DNA作為高通量檢測平台的表面探針之使用方法,係包括一晶片改質步驟及一流體檢測步驟,本發明分別以FET檢測平台及SPRi檢測平台來作為高通量檢測平台的實施例,並驗證N-DNA使用在此兩種檢測平台所產生之功效,證實N-DNA作為表面探針可有效降低系統之背景雜訊,達到提升雜交效率及敏感度,進而提升檢測之反應靈敏度。
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解決的問題或達成的功效: |
提供 一種以N-DNA作為高通量檢測平台表面探針,其中該N-DNA係將DNA磷酸骨架帶電氧離子(O-)經由甲基化、乙基化、丙基化或烷基化修飾後使骨架不帶電後所形成,可達到提升雜交效率、敏感度及使訊號更清楚之目的者,以提升生物檢測器之檢測敏感度及檢測品質
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應用領域: |
基因檢測的技術
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適用產品: |
基因檢測
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IPC: |
C12Q-001/68(2006.01);C07H-021/00(2006.01)
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Claim 1: |
1.一種以N-DNA作為高通量檢測平台的表面探針之用途,其中該N-DNA係將DNA磷酸骨架帶電氧離子(O-)經由甲基化、乙基化、丙基化或烷基化修飾後使骨架不帶電後所形成,達到提升雜交效率、敏感度及使訊號更清楚之目的者。
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