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適用於放射治療中掃描式離子束量測的偵測器
專利名稱 用於放射治療中掃描式離子束量測的偵測器
申請日 (校編號) 2015/08/14  (104029TW)
專利證書號 M521469 中華民國
專利權人 國立中央大學
發明人 林志勳、鄧炳坤、陳鎰鋒


技術摘要:
一種用於放射治療中掃描式離子束量測的偵測器,依序為第一高壓電極、第一間隔件、雙面分段電極、第二間隔件以及第二高壓電極,第一高壓電極與第二高壓電極各包含有第一高壓區與第二高壓區,雙面分段電極具有第一偵測區、第二偵測區、分別設置於第一偵測區與第二偵測區的第一讀出電極以及第二讀出電極,第一間隔件圍繞第一高壓區、第一偵測區而成第一離子腔室,第二間隔件圍繞第二高壓區、第二偵測區而成第二離子腔室。藉由設置兩個離子腔室,並搭配不同方向之第一讀出電極與第二讀出電極,可得到高準確的空間解析度、空間劑量及掃描速度。

解決的問題或達成的功效:
本新型的主要目的,在於解決習知偵測器因空間解析度太大以及量測速度不夠快,而無法對掃描式離子束進行準確的量測的問題。

應用領域:
本新型為有關一種偵測器,尤指一種用於放射治療中掃描式離子束量測的偵測器。

適用產品:
偵測器

IPC:
A61N-005/10(2006.01)

Claim 1:
1.一種用於放射治療中掃描式離子束量測的偵測器,包含有: 一第一高壓電極,包含有一第一高壓區以及一圍繞該第一高壓區的第一接地區; 一第二高壓電極,包含有一第二高壓區以及一圍繞該第二高壓區的第二接地區; 一設置於該第一高壓電極與該第二高壓電極之間的雙面分段電極,包含有一與該第一高壓區對應設置的第一偵測區、一背設於該第一偵測區並與該第二高壓區對應設置的第二偵測區、一圍繞該第一偵測區與該第二偵測區的第三接地區、一設置於該第一偵測區的第一讀出電極以及一設置於該第二偵測區的第二讀出電極; 一設置於該第一高壓電極與該雙面分段電極之間的第一間隔件,包含有一連接於該第一接地區與該第三接地區的第一框架本體,以及一由該第一框架本體圍繞該第一高壓區、該第一偵測區而成的第一離子腔室,且該第一讀出電極容置於該第一離子腔室內;以及 一設置於該第二高壓電極與該雙面分段電極之間的第二間隔件,包含有一連接於該第二接地區與該第三接地區的第二框架本體,以及一由該第二框架本體圍繞該第二高壓區、該第二偵測區而成的第二離子腔室,且該第二讀出電極容置於該第二離子腔室內。 

相關圖片:
     
 
     
 
     
 
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